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高純度無試劑 IC (RFIC) 可避免手動溶析製備的人力與危險。
使用虛擬管柱分離模擬器或預先測試的儀器方法,建立起始條件 eWorkflows。
以最低的溶析使用量和最少的毛細管 HPIC 系統廢棄物生成來執行樣本,以更快獲得成果。
一致實現良好的低無效體積管路連接,以達到最佳層析效能和 Viper 配裝。
使用無試劑離子層析 (RFIC),去除溶析製備的變異性並探索梯度潛力。
透過立即可用、可追蹤的 IC 試劑和標準,可避免手動製備的麻煩並改善一致性。
以雙重溶析生成匣 (Dual EGC) 產出可再現的溶析梯度,以分析複雜的碳水化合物。
透過使用僅將泵頭暴露於去離子水中的無試劑 IC,可延長泵頭使用壽命和一致的效能。
使用 遠端儀器監控,在它們變成問題之前即可收到儀器問題警示。
透過整合了耐腐蝕 PEEK 部件的 Dionex IC 系統,確保強大效能。
從基本的 Thermo Scientific Dionex Integrion HPIC 系統開始,然後配合您的需求進行升級。
使用多重偵測器選項,包括 UV/Vis、電化學和質譜儀 (MS),準備好進行新的分析。
隨時可使用 AppsLab 方法資料庫中的 eWorkflows 來索取新分析物的測定資訊。
透過模組 Thermo Scientific Dionex ICS-6000 HPIC 系統,可同時開發多種方法或倍增您的處理量。
利用各式各樣的管柱化學品和格式,滿足目前和新興法規方法需求。
透過 4 µm 管柱的增強解析度優勢,縮短執行時間並提高處理量。
充分利用 4 µm 顆粒管柱所提供的高壓 IC (HPIC) 系統,縮短運作時間。
隨著樣本負載提升,使用樣本製備產品與 Chromeleon CDS AutoDilution 來減少樣本處理時間。
比較各種 IC 系統以判斷哪一種最適合您。
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