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Field emission gun scanning electron microscope
The Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM brings field emission SEM to your tabletop. The Phenom Pharos G2 FEG-SEM will outperform many floor-standing SEMs in terms of image quality, while offering a vastly better user experience. For academic and industrial laboratories that so far did not consider SEM a realistic option, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM makes FEG performance accessible thanks to its attractive form factor and short training required. Blazing fast sample loading means fast sample exchange, which means higher productivity. Unlike other SEMs, which end up being fully booked, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM performs imaging and analysis jobs so quickly that it serves well as a walk-up tool.
The new Phenom Pharos G2 FEG-SEM expands its acceleration voltage range down to 1 kV, to better accommodate insulating and beam-sensitive samples, and up to 20 kV, with a resolution of 2.0 nm that reveals the finest details.
Introducing the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM: Intuitive evidence for your research
Unique field emission source
Unique among desktop SEMs, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM offers a field emission source, which guarantees high brightness, crisp images, and stable beam current.
Excellent resolving power
The Phenom Pharos G2 FEG-SEM offers a resolution of 2.0 nm at 20 kV. Such performance shows the shape of nanoparticles, imperfections in coatings, or other features that would be missed by tungsten SEMs or other tabletop SEMs.
Gentle imaging
With a voltage range down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM enables imaging of beam-sensitive samples, such as polymers, as well as insulating samples, without the requirement to apply a coating. As a result, nanoscale surface features are not obscured.
Higher productivity
While FEG SEMs have a reputation for being difficult to accommodate and difficult to operate, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM literally requires only a desk, and less than one hour of training. Master students, visitors, or other researchers typically not trained to work on high-end FEG SEMs can easily use the Phenom Pharos G2 FEG-SEM to create eye-catching images.
A world of information
On the Phenom Pharos G2 FEG-SEM, morphological information is acquired together with compositional information, thanks to SE, BSE, and EDS detectors built into the system. A range of sample holders is available for temperature-controlled or electrical experiments.
ChemiSEM Technology
Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.
Style Sheet for Products Table Specifications
| Resolution |
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| Electron optical magnification range |
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| Light optical magnification |
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| Acceleration voltages |
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| Vacuum modes |
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| Detector |
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| Sample size |
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| Sample height |
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Style Sheet for Komodo Tabs
Uncoated insulators, such as this sea shell, can only be properly imaged at low acceleration voltage. At 2 kV (left image), significant charging artifacts can still be observed. At 1 kV (right image), those artifacts have disappeared.
Sensitive materials require gentle conditions. With an acceleration voltage down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM images beam-sensitive samples without sample coating or other sample preparation. Left: pharmaceutical powder, imaged without damage at 1 kV. Right: the same sample imaged at 5 kV, with damage, illustrating the need for low-kV imaging.
Silver nanostructure
Gold nanoparticles
CaCO3 powder (Coated)
Coated Polymer Film
Lung tissue
Phenom User Interface
EDS & Live EDS
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Uncoated insulators, such as this sea shell, can only be properly imaged at low acceleration voltage. At 2 kV (left image), significant charging artifacts can still be observed. At 1 kV (right image), those artifacts have disappeared.
Sensitive materials require gentle conditions. With an acceleration voltage down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM images beam-sensitive samples without sample coating or other sample preparation. Left: pharmaceutical powder, imaged without damage at 1 kV. Right: the same sample imaged at 5 kV, with damage, illustrating the need for low-kV imaging.
Silver nanostructure
Gold nanoparticles
CaCO3 powder (Coated)
Coated Polymer Film
Lung tissue
Phenom User Interface
EDS & Live EDS
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Control de procesos mediante microscopía electrónica
La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.
Control de calidad y análisis de fallos
El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.
Investigación sobre materiales fundamentales
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Tomografía EDS en 3D
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Adquisición de imágenes de muestras calientes
El estudio de los materiales en condiciones reales suele implicar el trabajo a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales cuando se recristalizan, derriten, deforman o reaccionan ante el calor se puede estudiar in situ con la microscopía electrónica de barrido o con las herramientas DualBeam.
Experimentación in situ
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.
Análisis de escala múltiple
Los novedosos materiales se deben analizar a una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis de escala múltiple permite la correlación de varias herramientas y modalidades de obtención de imágenes, tales como microTC de rayos X, DualBeam, PFIB láser, SEM y TEM.
Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Tomografía EDS en 3D
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Adquisición de imágenes de muestras calientes
El estudio de los materiales en condiciones reales suele implicar el trabajo a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales cuando se recristalizan, derriten, deforman o reaccionan ante el calor se puede estudiar in situ con la microscopía electrónica de barrido o con las herramientas DualBeam.
Experimentación in situ
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.
Análisis de escala múltiple
Los novedosos materiales se deben analizar a una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis de escala múltiple permite la correlación de varias herramientas y modalidades de obtención de imágenes, tales como microTC de rayos X, DualBeam, PFIB láser, SEM y TEM.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Electron microscopy services for
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Electron microscopy support and resources
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Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards