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SEM EDX gunshot residue analysis
Gunshot residue (GSR) analysis plays an important role in the determination if a firearm has been used in a crime. Established GSR analysis techniques are based on the use of a scanning electron microscope (SEM), which is used to scan the sample and find suspect GSR particles. If a suspect particle is found, an energy dispersive spectroscopy (EDS) technique is used to identify the elements in that particle.
The Thermo Scientific Phenom Perception GSR Desktop SEM is the only dedicated SEM specifically designed for gunshot residue analysis. Because the system is automated, it enables you to speed up the analysis process. With no need to change your settings each time, you can immediately focus on the task at hand.
A high-brightness CeB6 source is at the heart of the desktop Phenom system. This means that you can be confident it will provide reliable, long-lasting daily use and won’t need to be replaced unexpectedly. The Phenom Perception GSR Desktop SEM makes gunshot residue analysis on-demand, faster, easier and more reliable than ever before. Perfect for every busy lab that wants to save time and floor space.
- Dedicated gunshot residue solution
- Only needs a small lab space
- Stable operation, available 24/7
- Long lifetime CeB6 source
Particle Analysis Learning Center
High throughput, reliable results
Thanks to the fully motorized stage, the Phenom Perception GSR Desktop SEM can handle a scan area of 100 mm x 100 mm. The software uses the internal scan control of the SEM. This enables more accurate beam positioning which especially helps when revisiting the particle in the GSR verification phase. A standard GSR sample holder can hold 30 12mm GSR pin stubs plus the necessary calibration samples.
Fully integrated EDS
The dedicated software package Element Identification (EID) is used to control the fully integrated EDS detector. This EID software is delivered standard as part of the Phenom Perception GSR product.
ChemiSEM Technology
Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.
Formatvorlage für Produkttabellen-Spezifikationen
| Sample size |
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| Software Specifications |
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| Detector types |
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| Reporting workflow |
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| Imaging module |
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| Analysis computer |
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| Power |
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Desktop-REM-Blogs
Möchten Sie die volle Stärke der Rasterelektronenmikroskopie nutzen, ohne Kompromisse bei der Funktionalität eingehen zu müssen? Erweitern Sie Ihr Wissen zur Rasterelektronenmikroskopie und erfahren Sie in unseren Phenom Desktop-REM-Blog, wie Desktop-REM Ihre Forschung optimal unterstützen kann.
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Webinar
On-demand Webinar: Introducing the Phenom Perception Gunshot Residue (GSR) Desktop SEM
In this webinar we detail the Phenom Perception GSR software workflow used in compliance with ASTM and ENFSI guidelines. The webinar covers the accuracy of the instrument and outlines the critical requirements for an effective SEM for gunshot residue analysis.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
GSR perception interface where you can see the acquired spectra from particle
GSR User Interface with GSR particle and stage map
9mm luger 01
GSR User Interface - revisiting and verification of GSR particle
Dagsx 9x19 np 02
Webinar
On-demand Webinar: Introducing the Phenom Perception Gunshot Residue (GSR) Desktop SEM
In this webinar we detail the Phenom Perception GSR software workflow used in compliance with ASTM and ENFSI guidelines. The webinar covers the accuracy of the instrument and outlines the critical requirements for an effective SEM for gunshot residue analysis.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
GSR perception interface where you can see the acquired spectra from particle
GSR User Interface with GSR particle and stage map
9mm luger 01
GSR User Interface - revisiting and verification of GSR particle
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Prozesskontrolle mittels Elektronenmikroskopie
Die moderne Industrie verlangt einen hohen Durchsatz bei erstklassiger Qualität. Diese Balance wird durch eine robuste Prozesskontrolle aufrechterhalten. REM- und TEM-Geräte mit spezieller Automatisierungssoftware bieten schnelle, mehrskalige Informationen für die Überwachung und Verbesserung von Prozessen.
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
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EDS-Elementanalyse
Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.
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3D-EDS-Tomographie
Die moderne Materialforschung ist zunehmend auf die Nanoanalyse in drei Dimensionen angewiesen. Die 3D-Charakterisierung, einschließlich Zusammensetzungsdaten für den vollständigen chemischen und strukturellen Kontext, ist mit 3D-EM und energiedispersiver Röntgenspektroskopie möglich.
Atomare Elementzuordnung mit EDS
Die EDS mit atomarer Auflösung liefert einen beispiellosen chemischen Kontext für die Materialanalyse, indem sie die Elementidentität einzelner Atome differenziert. In Kombination mit hochauflösender TEM ist es möglich, die genaue Organisation der Atome in einer Probe zu beobachten.
Partikelanalyse
Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.
EDS-Elementanalyse
Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.
3D-EDS-Tomographie
Die moderne Materialforschung ist zunehmend auf die Nanoanalyse in drei Dimensionen angewiesen. Die 3D-Charakterisierung, einschließlich Zusammensetzungsdaten für den vollständigen chemischen und strukturellen Kontext, ist mit 3D-EM und energiedispersiver Röntgenspektroskopie möglich.
Atomare Elementzuordnung mit EDS
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Partikelanalyse
Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Electron microscopy services for
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Electron microscopy support and resources
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