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Materials Science
DualBeam FIB Cross Sectioning
FIB cross section generation with DualBeam tools for automated and high throughput subsurface characterization.
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48ab - Appl/Samples/Products/Resources/Contact
Site-specific cross-section for scratch testing and adhesion of a paint coating,
performed on a Helios G4 PFIB DualBeam.
performed on a Helios G4 PFIB DualBeam.
Modern materials characterization is increasingly reliant on sub-surface characterization for a more comprehensive understanding of the material’s structure and physical properties. Cross-sectioning with a DualBeam instrument, which combines a focused ion beam with a scanning electron microscope (FIB-SEM), allows you to mill the material with FIB and perform high-resolution SEM imaging at nanometer scale. In failure analysis, for instance, this allows for defects to be located under the surface, making DualBeams instruments ideal for identification of the root cause of failures.
Along with high-resolution SEM imaging, cross-section characterization on the DualBeam can be expanded with back-scattered electron (BSE) imaging for maximum materials contrast, energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) for compositional information, and electron backscatter diffraction (EBSD) for microstructural and crystallographic information.
Additionally, with the introduction of the Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam, we now offer the flexibility of argon, oxygen, xenon, and nitrogen ion species in one instrument, allowing you to choose the best FIB type for each of your experiments. Xenon ions are well suited for high-throughput removal of various materials, like metals and ceramics, whereas oxygen ions provide superior milling quality for carbon-based samples. In case extremely large volume characterization is needed, the Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB System is an additional solution. It enables high-throughput cross-sectioning up to millimeter scale, as well as processing of materials that are typically challenging for ion beams (e.g. charging or beam sensitive samples). We combine these unique DualBeam capabilities with our versatile software solutions to bring you a range of workflows for advanced 3D characterization and high-resolution analysis at the nanometer scale.
Curtain-free large-area cross section of a silicon sample performed on the Helios Hydra DualBeam in less than one minute. This process was completed without a protective capping layer, showcasing the high-quality round beam to achieve superior cross-section quality with the argon focused ion beam.
Comparison of cross-section quality when milled using different ion types. For carbon-based materials, the oxygen ion beam typically shows improved cut face quality, as is shown for this automotive oil filter casing (polymer/glass-fiber composite). Horizontal field width is 350 µm.
Cross section of an additive manufacturing powder (CuAgAl) using the Scios DualBeam. EBSD map (inset) shows grains size distribution and orientation within the particle.
Large-area cross section of a solder bump completed in 15 minutes. The curtain-free, high-quality cut face is suitable for XHR (extreme high resolution) SEM imaging.
Curtain-free large-area cross section of a silicon sample performed on the Helios Hydra DualBeam in less than one minute. This process was completed without a protective capping layer, showcasing the high-quality round beam to achieve superior cross-section quality with the argon focused ion beam.
Comparison of cross-section quality when milled using different ion types. For carbon-based materials, the oxygen ion beam typically shows improved cut face quality, as is shown for this automotive oil filter casing (polymer/glass-fiber composite). Horizontal field width is 350 µm.
Cross section of an additive manufacturing powder (CuAgAl) using the Scios DualBeam. EBSD map (inset) shows grains size distribution and orientation within the particle.
Large-area cross section of a solder bump completed in 15 minutes. The curtain-free, high-quality cut face is suitable for XHR (extreme high resolution) SEM imaging.
Prozesskontrolle mittels Elektronenmikroskopie
Die moderne Industrie verlangt einen hohen Durchsatz bei erstklassiger Qualität. Diese Balance wird durch eine robuste Prozesskontrolle aufrechterhalten. REM- und TEM-Geräte mit spezieller Automatisierungssoftware bieten schnelle, mehrskalige Informationen für die Überwachung und Verbesserung von Prozessen.
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
Batterieforschung
Die Entwicklung von Batterien wird durch die Multiskalen-Analyse mit Mikro-CT, REM und TEM, Raman-Spektroskopie, XPS und digitaler 3D-Visualisierung und 3D-Analyse ermöglicht. Erfahren Sie, wie dieser Ansatz die strukturellen und chemischen Informationen liefert, die für den Bau besserer Batterien benötigt werden.
Öl und Gas
Da die Nachfrage nach Öl und Gas anhält, besteht ein ständiger Bedarf an einer effizienten und effektiven Gewinnung von Kohlenwasserstoffen. Thermo Fisher Scientific bietet eine Reihe von Mikroskopie- und Spektroskopielösungen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Petrochemie an.
Metallforschung
Die effektive Produktion von Metallen erfordert eine präzise Kontrolle von Einschlüssen und Ausscheidungen. Unsere automatisierten Geräte können eine Vielzahl von Aufgaben ausführen, die für die Metallanalyse wichtig sind, einschließlich der Zählung von Nanopartikeln, der chemischen Analyse mittels EDS und der Vorbereitung von TEM-Proben.
Katalyseforschung
Katalysatoren sind für einen Großteil der modernen industriellen Prozesse von entscheidender Bedeutung. Ihre Effizienz hängt von der mikroskopischen Zusammensetzung und Morphologie der katalytischen Partikel ab; EM mit EDS eignet sich ideal für die Untersuchung dieser Eigenschaften.
Polymerforschung
Die Mikrostruktur von Polymeren bestimmt die Eigenschaften und die Leistungsfähigkeit des Materials. Die Elektronenmikroskopie ermöglicht eine umfassende Analyse der Morphologie und Zusammensetzung von Polymeren im Mikroskalenbereich für Anwendungen in der F+E und Qualitätskontrolle.
Geologische Forschung
Die Geowissenschaften beruhen auf einer konsistenten und präzisen, mehrskaligen Beobachtung von Merkmalen in Gesteinsproben. Die REM-EDS ermöglicht in Kombination mit Automatisierungssoftware eine direkte, umfangreiche Analyse der Textur und Mineralzusammensetzung für die petrologische und mineralogische Forschung.
Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten
Style Sheet for Komodo Tabs
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards
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