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Materials Science
Nanoparticle Research
Nanotechnology research with transmission electron microscopy and energy dispersive X-ray spectroscopy.
bf5a – Anwendungen/Verfahren/Produkte/Ressourcen/Kontakt
Nanotechnology is quickly redefining how we live. In the textile industry, they’re leading to intelligent, adaptable clothing that better repels stains, odors, and water. Consumer electronics, such as smartphones and other devices we use on a daily basis, are powered by transistors that are becoming ever smaller, faster, and better thanks to nanotechnology. In medicine, nanoparticles are being developed to deliver next-generation drugs and vaccines. It even has applications in the energy sector, where it is improving the efficiency of solar and wind power.
The versatility of nanoparticles arises from the fact that atoms and molecules have fundamentally different properties at the nanoscale than when they are combined to form larger particles or bulk materials. Some are better at conducting electricity and heat. Some are stronger, have different magnetic properties, or better reflect light. Materials at the nanoscale also have far greater surface areas than bulk materials, allowing nanoparticles to act as chemical catalysts in industrial applications or in automotive catalytic converters.
Quantifying the composition, sizes and shapes of nanoparticles is a crucial first step in furthering our understanding of their unique properties. Using intuitive scanning or transmission electron microscopes (S/TEM) in combination with energy dispersive x-ray spectroscopy (EDX), researchers around the globe are obtaining nanometer-, and even sub-nanometer-, scale images and chemical data, giving important insights into the arrangement and potential functions of nanoparticles.
The need for large area correlative imaging at high resolution has recently increased, as it allows researchers to preserve the context of their observations while also providing statistically robust data. Thermo Scientific Maps Software enables automated, unattended acquisition of images across a sample that are then stitched together to create one large final image. Additionally, Thermo Scientific Avizo Software allows for on-the-fly processing of statistics such as size, surface area, perimeter, distribution, and chemical composition of nanoparticles. Images and chemical information from different microscopes can be correlated to retain relevant context.
Large-area TEM image of nanoparticles produced by a Thermo Scientific Talos TEM. In the subsequent image these particles are automatically analyzed and sorted according to size. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Automated, large-area STEM-EDS data reveals the elemental composition of individual nanoparticles. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Through a combination of Maps, Velox and Avizo Software the Talos TEM can automatically produce and analyze large-area TEM data such this collection of nanoparticles. Here, color corresponds to particle size; this data can subsequently be quantified and analyzed. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
STEM image of a collection of nanoparticles. In the subsequent image the elemental composition of individual particles is determined from EDS data which is acquired along with image acquisition. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Large-area TEM image of nanoparticles produced by a Thermo Scientific Talos TEM. In the subsequent image these particles are automatically analyzed and sorted according to size. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Automated, large-area STEM-EDS data reveals the elemental composition of individual nanoparticles. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Through a combination of Maps, Velox and Avizo Software the Talos TEM can automatically produce and analyze large-area TEM data such this collection of nanoparticles. Here, color corresponds to particle size; this data can subsequently be quantified and analyzed. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
STEM image of a collection of nanoparticles. In the subsequent image the elemental composition of individual particles is determined from EDS data which is acquired along with image acquisition. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Prozesskontrolle mittels Elektronenmikroskopie
Die moderne Industrie verlangt einen hohen Durchsatz bei erstklassiger Qualität. Diese Balance wird durch eine robuste Prozesskontrolle aufrechterhalten. REM- und TEM-Geräte mit spezieller Automatisierungssoftware bieten schnelle, mehrskalige Informationen für die Überwachung und Verbesserung von Prozessen.
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
Style Sheet for Komodo Tabs
Atomare Elementzuordnung mit EDS
Die EDS mit atomarer Auflösung liefert einen beispiellosen chemischen Kontext für die Materialanalyse, indem sie die Elementidentität einzelner Atome differenziert. In Kombination mit hochauflösender TEM ist es möglich, die genaue Organisation der Atome in einer Probe zu beobachten.
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EDS-Elementanalyse
Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.
Partikelanalyse
Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.
Automatisierter Partikel-Workflow
Der automatisierte Nanopartikel-Workflow (APW) ist ein Arbeitsablauf für die Nanopartikelanalyse unter Verwendung des Transmissionselektronenmikroskops, der eine großflächige, hochauflösende Bildgebung und Datenerfassung im Nanobereich mit der Verarbeitung im laufenden Betrieb bietet.
Atomare Elementzuordnung mit EDS
Die EDS mit atomarer Auflösung liefert einen beispiellosen chemischen Kontext für die Materialanalyse, indem sie die Elementidentität einzelner Atome differenziert. In Kombination mit hochauflösender TEM ist es möglich, die genaue Organisation der Atome in einer Probe zu beobachten.
EDS-Elementanalyse
Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.
Partikelanalyse
Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.
Automatisierter Partikel-Workflow
Der automatisierte Nanopartikel-Workflow (APW) ist ein Arbeitsablauf für die Nanopartikelanalyse unter Verwendung des Transmissionselektronenmikroskops, der eine großflächige, hochauflösende Bildgebung und Datenerfassung im Nanobereich mit der Verarbeitung im laufenden Betrieb bietet.
Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards
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